[发明专利]一种对消式去耦芯片有效

专利信息
申请号: 202010893375.0 申请日: 2020-08-31
公开(公告)号: CN112164891B 公开(公告)日: 2023-05-23
发明(设计)人: 赵鲁豫;刘洋;王璟珂 申请(专利权)人: 西安朗普达通信科技有限公司
主分类号: H01Q1/52 分类号: H01Q1/52;H01L27/02
代理公司: 苏州创元专利商标事务所有限公司 32103 代理人: 范晴
地址: 710000 陕西省西安市沣东新*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明公开了一种对消式去耦芯片,包括左右对称分布的双T型微带结构A、B,以及前后对称分布的山型去耦结构C、D;所述山型去耦结构C、D相对的一侧分别设有左、右两个开槽,双T型微带结构A、B的前、后端部分别位于山型去耦结构C、D的左、右开槽内;双T型微带结构A左侧向外有两个凸起端部,双T型微带结构B右侧向外有两个凸起端。所述对消式去耦芯片采用低温共烧陶瓷技术制成。本发明通过设计对称分布的双T型微带结构,在两端加入山型去耦结构,该芯片在一定的频带内产生去耦作用,用于多天线系统之间去耦,提高多天线系统之间的隔离度,且去耦结构本身不会影响天线的辐射方向。
搜索关键词: 一种 对消 式去耦 芯片
【主权项】:
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