[发明专利]存储器的掉电测试方法、装置、可读存储介质及电子设备有效
| 申请号： | 202010894417.2 | 申请日： | 2020-08-31 |
| 公开（公告）号： | CN112017723B | 公开（公告）日： | 2022-11-15 |
| 发明（设计）人： | 孙成思;孙日欣;李振华;叶欣;张飞旸 | 申请（专利权）人： | 深圳佰维存储科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/08 | 分类号： | G11C29/08;G11C29/56 |
| 代理公司： | 深圳市博锐专利事务所 44275 | 代理人： | 刘晓燕 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市南山区桃源街道平山社区留仙*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开一种存储器的掉电测试方法、装置、可读存储介质及电子设备，先在待测试存储器中写入第一测试数据，然后对待测试存储器的实时状态进行监测，在监测过程中，如果待测试存储器处于上电状态下，则触发待测试存储器始终执行垃圾回收机制，并且如果一旦监测到待测试存储器掉电，即对其掉电前的第一检测状态进行保存，待其上电后，基于保存的第一检测状态继续触发待检测存储器继续执行垃圾回收机制，通过对第一测试数据的校验能够实现对GC算法性能的自动化测试，不仅能够保证普通读写测试不因意外或主动掉电而受到影响，而且可以有效检测待测试存储器应对异常掉电情况下的GC算法的可靠性和稳定性。 | ||
| 搜索关键词： | 存储器 掉电 测试 方法 装置 可读 存储 介质 电子设备 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳佰维存储科技股份有限公司，未经深圳佰维存储科技股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202010894417.2/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：适用于极地船舶的中央冷却变频系统
- 下一篇：一种车辆远光灯智能调节装置和方法
