[发明专利]星载微波辐射计热源辐射量在轨偏差系数的测试装置及方法有效

专利信息
申请号: 202010896677.3 申请日: 2020-08-31
公开(公告)号: CN111982306B 公开(公告)日: 2023-08-25
发明(设计)人: 孟婉婷;何嘉恺;徐红新;董克松;张软玉;李恩晨;李雪;王平凯 申请(专利权)人: 上海航天测控通信研究所
主分类号: G01J5/90 分类号: G01J5/90
代理公司: 上海汉声知识产权代理有限公司 31236 代理人: 胡晶
地址: 201109 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明提供了一种星载微波辐射计热源辐射量在轨偏差系数测试装置及方法,该发明科学合理、易于实现。本发明基于星载微波辐射计在轨热源定标系统的结构,提供了有效而精准的热源定标辐射量在轨偏差系数的测试方法及装置,从而可以评估热源定标辐射量在轨的稳定度,也有利于评估星载微波辐射计热源定标系统的在轨定标效果,能为针对性的改善评估系统定标方案指明方向,进而为提高星载微波辐射计辐射测量精度打下良好的基础。
搜索关键词: 微波 辐射计 热源 辐射量 偏差 系数 测试 装置 方法
【主权项】:
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