[发明专利]一种参数校验方法、设备以及存储介质有效

专利信息
申请号: 202010898397.6 申请日: 2020-08-31
公开(公告)号: CN112181804B 公开(公告)日: 2023-09-08
发明(设计)人: 云仕成 申请(专利权)人: 五八到家有限公司
主分类号: G06F11/36 分类号: G06F11/36
代理公司: 北京太合九思知识产权代理有限公司 11610 代理人: 孙明子;刘戈
地址: 410000 湖南省长沙市长沙高新*** 国省代码: 湖南;43
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摘要: 发明公开了一种参数校验方法、设备以及存储介质。所述方法包括:基于切面技术创建spring切面,拦截待校验方法;获取所述待校验方法对应的至少一个注解标识;基于预设数据结构规则,解析所述注解标识对应的待检验参数;根据所述待校验参数与至少一个所述注解标识的对应关系,对所述待校验参数进行校验。通过上述技术方案,在对待校验参数进行校验的时候,可以利用预设数据结构规则,解析得到各待校验参数分别对应的至少一个注解标识,进而,可以实现对各种待校验参数进行校验,只要符合数据结构规则的参数都可以添加到待校验参数中,能够满足多样化、多种类型的参数校验需求。
搜索关键词: 一种 参数 校验 方法 设备 以及 存储 介质
【主权项】:
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