[发明专利]芯片测试参数异常的侦测方法、存储介质、终端在审
| 申请号： | 202010898440.9 | 申请日： | 2020-08-31 |
| 公开（公告）号： | CN112180230A | 公开（公告）日： | 2021-01-05 |
| 发明（设计）人： | 不公告发明人 | 申请（专利权）人： | 全芯智造技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 朱薇蕾;张振军 |
| 地址： | 230088 安徽省合肥市高新区*** | 国省代码： | 安徽;34 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种芯片测试参数异常的侦测方法、存储介质、终端，所述方法包括：获取当前批次芯片的第一测试参数；根据所述第一测试参数计算所述当前批次芯片的边缘芯片比例，其中，所述边缘芯片比例为所述当前批次芯片中边缘芯片的占比，所述边缘芯片是所述第一测试参数的数值落入合格范围但超出边缘范围的芯片；当所述边缘芯片比例与基准边缘芯片比例之差大于第一预设提示值时，确定侦测到芯片测试参数异常，其中，所述基准边缘芯片比例与所述预设测试项相对应。通过本发明方案能够实现对芯片测试参数异常的自动侦测和推送，以在实际出现Bin失效前，提前预警芯片可靠性问题以及生产工艺和测试环节可能存在的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 测试 参数 异常 侦测 方法 存储 介质 终端 | ||
【主权项】：
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