[发明专利]一种测量磁场作用下镱原子团双折射效应的装置及方法

摘要

本发明公开了一种测量磁场作用下镱原子团双折射效应的装置和方法，涉及光学测量技术领域，装置包括激光器、半波片、为镱原子团提供匀强磁场的通电螺线管、装镱原子的透明直角梯形容器、待测镱原子团、起偏器、成像透镱和CCD探测器。本发明采用偏振干涉结构，根据所测量的干涉条纹的特性来实现磁场中镱原子团双折射效应的测量，与传统的方案相比，本发明提出的装置采用共轴光路系统，无移动部件，结构简单，稳定性强，能避免由于零部件的移动或较大振动对测量产生影响，且成本较低，实验上操作简单；本发明为后续研究磁场中镱原子的极化以及探索磁场对镱原子团的作用等提供了思路。