[发明专利]一种基于超声层析成像的应力场测量方法有效
| 申请号： | 202010902801.2 | 申请日： | 2020-09-01 |
| 公开（公告）号： | CN112014018B | 公开（公告）日： | 2021-08-27 |
| 发明（设计）人： | 陈兵;苟国庆;高唯;于金朋;朱忠尹;张曦;陈佳;胡彧孜;邱菲菲 | 申请（专利权）人： | 西南交通大学 |
| 主分类号： | G01L5/00 | 分类号： | G01L5/00 |
| 代理公司： | 成都众恒智合专利代理事务所(普通合伙) 51239 | 代理人： | 吴桐 |
| 地址： | 610031 四川省*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种基于超声层析成像的应力场测量方法，属于超声波无损检测技术领域。该方法包括步骤：标定试验；确定投影系数矩阵；零应力基准采集，依次激发超声换能器阵列中的每个超声换能器，获得零波形数据集；测量数据采集，按照零应力基准采集的激发顺序依次激发超声换能器阵列中的每个超声换能器，获得测试波形数据集；延时计算，使用互相关算法求解得到对应的应力时延向量；求解应力场方程，使用层析成像算法求解应力场方程得到应力向量；根据应力向量绘制应力场图像。本发明基于超声层析算法，通过构建探头扫描矩阵，实现了无需移动探头，单次测量即可得到工件浅表面应力场分布，降低了对操作人员的要求，提高了测量效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 超声 层析 成像 力场 测量方法 | ||
【主权项】：
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