[发明专利]一种纳米晶石墨纳米孔检测芯片及其制备方法和应用在审
申请号: | 202010910348.X | 申请日: | 2020-09-02 |
公开(公告)号: | CN112014430A | 公开(公告)日: | 2020-12-01 |
发明(设计)人: | 王赟姣;王德强;王亮;刘畅;程敏;周大明;何石轩;谢婉谊;方绍熙;殷博华;石彪;田荣;袁家虎 | 申请(专利权)人: | 中国科学院重庆绿色智能技术研究院 |
主分类号: | G01N27/00 | 分类号: | G01N27/00;B82Y15/00;B82Y40/00;C12Q1/6869 |
代理公司: | 北京同恒源知识产权代理有限公司 11275 | 代理人: | 赵荣之 |
地址: | 400714 *** | 国省代码: | 重庆;50 |
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摘要: | 本发明涉及一种纳米晶石墨纳米孔检测芯片及其制备方法和应用,属于芯片制备技术领域。本发明提供了一种纳米晶石墨纳米孔检测芯片,以带有纳米孔的纳米晶石墨薄膜为核心。由于纳米晶石墨薄膜表面易于修饰的化学特性,有助于为纳米孔传感提供更高的分辨率和灵敏度,从而在检测DNA、RNA、多肽或蛋白的过程中,待测物在电解质溶液中通过电场驱动通过纳米晶石墨薄膜上的纳米孔,进而达到检测的目的。本发明还提供了一种纳米晶石墨纳米孔检测芯片的制备方法,通过对支撑基片加工形成开孔,然后在支撑基片上制备具有纳米孔的纳米晶石墨薄膜。本发明的制备方法简单,容易操作。 | ||
搜索关键词: | 一种 纳米 晶石 检测 芯片 及其 制备 方法 应用 | ||
【主权项】:
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