[发明专利]获取像素单元的电学数据的方法和装置、阵列基板有效
| 申请号： | 202010911831.X | 申请日： | 2020-09-02 |
| 公开（公告）号： | CN111951734B | 公开（公告）日： | 2022-09-30 |
| 发明（设计）人： | 杨华玲;殷新社 | 申请（专利权）人： | 京东方科技集团股份有限公司 |
| 主分类号： | G09G3/3225 | 分类号： | G09G3/3225;G09G3/00 |
| 代理公司： | 北京博思佳知识产权代理有限公司 11415 | 代理人： | 林祥 |
| 地址： | 100015 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明是关于一种获取像素单元的电学数据的方法和装置、阵列基板。访阵列基板包括像素单元和外部补偿单元；各像素单元包括检测开关器件；当所述检测开关器件打开时，所述外部补偿单元用于获取第一数据，所述第一数据包括外部补偿单元中电平跳变引起的噪声数据；当所述检测开关器件闭合时，所述外部补偿单元连接到所述像素单元，用于获取第二数据，所述第二数据包括像外部补偿单元中电平跳变引起的噪声数据和像素单元的电学数据；所述外部补偿单元还用于根据所述第一数据和所述第二数据获取电学数据。本实施例可以消除电平跳变噪声对电学数据的影响，有利于提升获取电学数据的精度，有利于提升后续获得的补偿数据的准确度。 | ||
| 搜索关键词： | 获取 像素 单元 电学 数据 方法 装置 阵列 | ||
【主权项】：
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