[发明专利]一种基于MEG和EEG融合的脑结构成像系统和方法有效

专利信息
申请号: 202010915406.8 申请日: 2020-09-03
公开(公告)号: CN111973180B 公开(公告)日: 2021-09-17
发明(设计)人: 宁晓琳;曹富智;安楠;韩邦成;房建成 申请(专利权)人: 北京航空航天大学
主分类号: A61B5/369 分类号: A61B5/369;A61B5/245;A61B5/00
代理公司: 北京科迪生专利代理有限责任公司 11251 代理人: 安丽
地址: 100191*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明涉及一种基于MEG和EEG融合的脑结构成像系统及方法。该系统主要包括:磁屏蔽房、脑磁测量模块、脑电测量模块、数据同步及采集模块以及结构成像模块。基于MEG和EEG融合的脑结构成像方法同时采集人的MEG(脑磁信号)以及EEG(脑电信号),由于脑磁信号不受大脑各组织结构电导率的影响,而脑电信号受大脑各组织结构电导率的影响,因此根据两者的差异,可以得到与电导率有关的脑结构像。具体步骤为根据采集到的脑磁信号,得到大脑中活动源的情况,根据得到的大脑源计算各脑电电极应接收到的电势,同实际采集的各电极值比较。通过不断修改脑内各部分结构大小,多次计算直至两者差异达到设定值。此时脑内各部分结构的大小即为测量所得到的大脑结构。
搜索关键词: 一种 基于 meg eeg 融合 结构 成像 系统 方法
【主权项】:
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