[发明专利]一种半导体设备的载具及平行度检测方法有效

专利信息
申请号: 202010915564.3 申请日: 2020-09-03
公开(公告)号: CN111998805B 公开(公告)日: 2022-03-11
发明(设计)人: 林鑫;蔡文必;张灿秋 申请(专利权)人: 厦门市三安集成电路有限公司
主分类号: G01B11/27 分类号: G01B11/27;H01L21/683
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 361100 福建省厦门*** 国省代码: 福建;35
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摘要: 发明公开了一种半导体设备的载具及平行度检测方法,属于半导体设备领域。载具设有支架,设于支架上部可沿第一平面方向移动的平台,平台上部具有放置晶圆片的装载部,装载部平面中心一侧设有测距单元,用以测量测距单元至装载部上方作业面之间的距离,测距单元可沿平行于装载部平面方向摆动或转动;显示单元,用于显示测距单元的测距数值;检测时,不需要载台处于水平状态,将平台移动至与作业面与装载部平面错开位置,摆动测距单元测量作业面内测量轨迹中点和两个端点的距离数值,比较三个点的距离数值,若均相等则可判断为两平面平行;若有一个数值不相等则可判断为两平面不平行,减少了人工操作步骤,提升作业效率。
搜索关键词: 一种 半导体设备 平行 检测 方法
【主权项】:
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