[发明专利]一种半导体设备的载具及平行度检测方法有效
申请号: | 202010915564.3 | 申请日: | 2020-09-03 |
公开(公告)号: | CN111998805B | 公开(公告)日: | 2022-03-11 |
发明(设计)人: | 林鑫;蔡文必;张灿秋 | 申请(专利权)人: | 厦门市三安集成电路有限公司 |
主分类号: | G01B11/27 | 分类号: | G01B11/27;H01L21/683 |
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地址: | 361100 福建省厦门*** | 国省代码: | 福建;35 |
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摘要: | 本发明公开了一种半导体设备的载具及平行度检测方法,属于半导体设备领域。载具设有支架,设于支架上部可沿第一平面方向移动的平台,平台上部具有放置晶圆片的装载部,装载部平面中心一侧设有测距单元,用以测量测距单元至装载部上方作业面之间的距离,测距单元可沿平行于装载部平面方向摆动或转动;显示单元,用于显示测距单元的测距数值;检测时,不需要载台处于水平状态,将平台移动至与作业面与装载部平面错开位置,摆动测距单元测量作业面内测量轨迹中点和两个端点的距离数值,比较三个点的距离数值,若均相等则可判断为两平面平行;若有一个数值不相等则可判断为两平面不平行,减少了人工操作步骤,提升作业效率。 | ||
搜索关键词: | 一种 半导体设备 平行 检测 方法 | ||
【主权项】:
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