[发明专利]一种薄膜材料相变温度的测量装置在审
| 申请号： | 202010918872.1 | 申请日： | 2020-09-04 |
| 公开（公告）号： | CN111879808A | 公开（公告）日： | 2020-11-03 |
| 发明（设计）人： | 金森林;李硕;任玲玲 | 申请（专利权）人： | 中国计量科学研究院 |
| 主分类号： | G01N25/12 | 分类号： | G01N25/12 |
| 代理公司： | 北京悦和知识产权代理有限公司 11714 | 代理人： | 司丽春 |
| 地址： | 100029 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明实施例公开了一种薄膜材料相变温度的测量装置，包括：光学组件；真空腔，所述真空腔的顶部开设有入光孔，所述入光孔与所述光学组件的入射光线相对设置；高温炉，所述高温炉设置于所述真空腔内，所述高温炉的底部和侧向均安装有电阻加热片，所述电阻加热片通过导线与电源连接；样品室，所述样品室设置于所述高温炉内，所述样品室通过导热结构与所述电阻加热片导热连接，且样品放置于所述样品室内，热电偶内嵌于所述样品室中，并通过探头与所述样品相接触。其提高了薄膜材料相变温度的测量准确性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 薄膜 材料 相变 温度 测量 装置 | ||
【主权项】：
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