[发明专利]一种磁光克尔图像配准矫正方法、系统及显微镜系统在审

专利信息
申请号: 202010919600.3 申请日: 2020-09-04
公开(公告)号: CN112037270A 公开(公告)日: 2020-12-04
发明(设计)人: 张杰;徐蔚;张学莹;王麟;李绍新 申请(专利权)人: 北京航空航天大学;致真精密仪器(青岛)有限公司
主分类号: G06T7/32 分类号: G06T7/32;G06T7/37
代理公司: 北京智绘未来专利代理事务所(普通合伙) 11689 代理人: 张浩;赵卿
地址: 100191*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 一种磁光克尔图像配准矫正方法、系统及显微镜系统,方法包括以下步骤:步骤1,选择参考图像与待处理图像,选择参考区域;步骤2,使用相位相关法得到相位相关矩阵;步骤3,使用奇异值分解法得到频域上线性相位,使用拟合法处理该线性相位,得到横偏移量和纵偏移量;步骤4,自动移动待处理图像;步骤5,将参考图像和自动移动后的待处理图像做差,观察图像自动校正结果,步骤6,自定义输入任意横、纵偏移量、旋转角度,移动待处理图像,将参考图像和所述自定义移动后的待处理图像做差,观察图像自定义校正结果;步骤7,存储配准矫正效果图像。本发明可以完成亚像素精度的自动配准矫正,可自动执行预处理、偏移量计算、配准矫正等操作。
搜索关键词: 一种 克尔 图像 矫正 方法 系统 显微镜
【主权项】:
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