[发明专利]一种磁光克尔图像配准矫正方法、系统及显微镜系统在审
申请号: | 202010919600.3 | 申请日: | 2020-09-04 |
公开(公告)号: | CN112037270A | 公开(公告)日: | 2020-12-04 |
发明(设计)人: | 张杰;徐蔚;张学莹;王麟;李绍新 | 申请(专利权)人: | 北京航空航天大学;致真精密仪器(青岛)有限公司 |
主分类号: | G06T7/32 | 分类号: | G06T7/32;G06T7/37 |
代理公司: | 北京智绘未来专利代理事务所(普通合伙) 11689 | 代理人: | 张浩;赵卿 |
地址: | 100191*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 一种磁光克尔图像配准矫正方法、系统及显微镜系统,方法包括以下步骤:步骤1,选择参考图像与待处理图像,选择参考区域;步骤2,使用相位相关法得到相位相关矩阵;步骤3,使用奇异值分解法得到频域上线性相位,使用拟合法处理该线性相位,得到横偏移量和纵偏移量;步骤4,自动移动待处理图像;步骤5,将参考图像和自动移动后的待处理图像做差,观察图像自动校正结果,步骤6,自定义输入任意横、纵偏移量、旋转角度,移动待处理图像,将参考图像和所述自定义移动后的待处理图像做差,观察图像自定义校正结果;步骤7,存储配准矫正效果图像。本发明可以完成亚像素精度的自动配准矫正,可自动执行预处理、偏移量计算、配准矫正等操作。 | ||
搜索关键词: | 一种 克尔 图像 矫正 方法 系统 显微镜 | ||
【主权项】:
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