[发明专利]基于碳化硅衬底的垂直氮化铝PN结二极管及制备方法有效

专利信息
申请号: 202010922623.X 申请日: 2020-09-04
公开(公告)号: CN112038411B 公开(公告)日: 2021-11-30
发明(设计)人: 周弘;曾诗凡;王捷英;张进成;许晟瑞;刘志宏;郝跃 申请(专利权)人: 西安电子科技大学
主分类号: H01L29/861 分类号: H01L29/861;H01L21/329;H01L29/20;H01L29/06;H01L21/02
代理公司: 陕西电子工业专利中心 61205 代理人: 王品华;黎汉华
地址: 710071*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明公开了一种基于碳化硅衬底的垂直氮化铝PN结二极管,主要解决现有PN结二极管击穿电压低和额定功率低的问题。其自下而上包括阴极(1)、衬底(2)、n型外延层(3)、p型外延层(4)、阳极(5),阳极的两侧与p型外延层上部的相交处设有钝化层(6)。其中,衬底采用n型高掺碳化硅,其掺杂浓度为1017‑1020cm‑3;n型外延层和p型外延层采用氮化铝材料,且n型外延层的掺杂浓度为1013‑1019cm‑3,p型外延层的掺杂浓度为1013‑1019cm‑3;该p型外延层两侧设有阻碍载流子迁移的高阻区。本发明抑制了反向漏电,提高了器件的击穿电压。可用作大功率的电力电子器件。
搜索关键词: 基于 碳化硅 衬底 垂直 氮化 pn 二极管 制备 方法
【主权项】:
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