[发明专利]一种坏点检测校正方法及装置有效
| 申请号： | 202010922827.3 | 申请日： | 2020-09-04 |
| 公开（公告）号： | CN112019775B | 公开（公告）日： | 2023-03-24 |
| 发明（设计）人： | 宋博;王勇;温建新 | 申请（专利权）人： | 成都微光集电科技有限公司 |
| 主分类号： | H04N25/68 | 分类号： | H04N25/68 |
| 代理公司： | 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 | 代理人： | 曹廷廷 |
| 地址： | 610041 四川省成都市成都高*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种坏点检测校正方法及装置，该方法包括：在图像数据中确定出预定像素点；确定预定像素点是否为坏点或者是否为疑似坏点；当预定像素点为坏点时，对预定像素点的像素值执行第一校正操作；当预定像素点为疑似坏点时，判断预定像素点在图像数据中的所属图像区域，当判断出预定像素点位于图像数据的平坦区域时，确定预定像素点为坏点，对预定像素点的像素值执行第二校正操作，当判断出预定像素点位于图像数据的边缘区域时，再次判断预定像素点是否为坏点，当判断出预定像素点为坏点时，对预定像素点的像素值执行所述第二校正操作。本发明的方法的检测准确率以及校正准确率均较高、成本较低、且可以保证图像边缘信息以及细节信息。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 检测 校正 方法 装置 | ||
【主权项】：
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