[发明专利]非破坏检查装置在审
申请号: | 202010927616.9 | 申请日: | 2020-09-07 |
公开(公告)号: | CN113399315A | 公开(公告)日: | 2021-09-17 |
发明(设计)人: | 染谷幸夫;篠原正治;半杭秀一;永田航平;新井隆行 | 申请(专利权)人: | 东芝IT·控制系统株式会社 |
主分类号: | B07C5/346 | 分类号: | B07C5/346;G01N23/18 |
代理公司: | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人: | 杨文娟;臧建明 |
地址: | 日本东京新宿区西新宿六丁*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明提供一种非破坏检查装置,其尽管采用直线状的检查输送机,也能够可靠地移载非检查物。本发明的非破坏检查装置包括:放射线发生器,对被检查物照射放射线束;放射线检测器,与放射线发生器相向设置;直线状的检查输送机,设置在放射线发生器和放射线检测器之间、在以固定的间隔排列有多个被检查物的状态下进行输送;搬入装置,将被检查物搬入到检查输送机的搬入侧为止;第一移载装置,将被检查物从搬入装置移载至检查输送机;以及第一交接部,设置在检查输送机的侧方且在搬入装置和检查输送机之间,且在被检查物的移载路径中,搬入装置、第一交接部、检查输送机中的被检查物的各载置面在同一平面上相互无间隙地对接。 | ||
搜索关键词: | 破坏 检查 装置 | ||
【主权项】:
暂无信息
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