[发明专利]一种波导式二维材料光热效应测量装置在审

专利信息
申请号: 202010932822.9 申请日: 2020-09-08
公开(公告)号: CN112014326A 公开(公告)日: 2020-12-01
发明(设计)人: 不公告发明人 申请(专利权)人: 西安柯莱特信息科技有限公司
主分类号: G01N21/17 分类号: G01N21/17;G01N21/25
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 710119 陕西省西安市高新区高*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明涉及二维材料光热特性检测领域,具体提供了一种波导式二维材料光热效应测量装置,将二维材料设置在金属‑介质‑金属波导内,在二维材料和金属‑介质‑金属波导的另一侧面之间设置敏感介质,在光作用下,二维材料产生热量,敏感介质吸收热后温度升高,改变其自身的折射率,从而改变敏感介质的共振波长,从而改变波导的透射特性,从透射光谱中共振峰的位置与入射光强度之间的关系确定二维材料的光热特性。因为敏感介质的共振波长对其折射率非常敏感,所以本发明具有探测灵敏度高的优点。另外,本发明在波导内设置二维材料,装置的结构简单、尺寸小。
搜索关键词: 一种 波导 二维 材料 光热 效应 测量 装置
【主权项】:
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