[发明专利]一种检测MCU芯片抗EFT干扰能力的电路及方法有效
| 申请号： | 202010933410.7 | 申请日： | 2020-09-08 |
| 公开（公告）号： | CN112067926B | 公开（公告）日： | 2021-07-06 |
| 发明（设计）人： | 刘红侠;郭丹;李战东;谢海武 | 申请（专利权）人： | 西安电子科技大学 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00;G01R31/3181 |
| 代理公司： | 陕西电子工业专利中心 61205 | 代理人： | 田文英;王品华 |
| 地址： | 710071*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本发明公开一种检测MCU芯片抗EFT干扰能力的电路及方法，本发明搭建了一个专门用于检测MCU抗EFT干扰能力的电路，利用该电路中第一直流电压源V1产生的线性直流电压信号驱动待检测MCU产生无EFT干扰时的输出波形，设计EFT干扰信号源参数，由线性直流电压信号驱动EFT干扰信号源产生EFT干扰信号，将线性直流电压信号与EFT干扰信号相加后驱动待检测MCU产生有EFT干扰时的输出波形，通过对比无EFT干扰信号与有EFT干扰信号时的输出波形，评估待检测MCU的抗EFT干扰能力。本发明EFT干扰信号源参数的设计更加符合工程实际情况，对MCU抗EFT干扰能力的评估更准确。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 检测 mcu 芯片 eft 干扰 能力 电路 方法 | ||
【主权项】：
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