[发明专利]一种缺陷检测的评估方法、装置、电子设备及存储介质在审
| 申请号： | 202010934098.3 | 申请日： | 2020-09-08 |
| 公开（公告）号： | CN112037214A | 公开（公告）日： | 2020-12-04 |
| 发明（设计）人： | 王世宏;车飞;王一帆;朱丽丽 | 申请（专利权）人： | 北京西管安通检测技术有限责任公司 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G01N22/02 |
| 代理公司： | 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463 | 代理人： | 毕翔宇 |
| 地址： | 100000 北京市朝阳区*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本申请提供了一种缺陷检测的评估方法、装置、电子设备及存储介质，所述评估方法包括基于获取的待检测材料经过缺陷检测后得到的待评估图像，确定待评估图像上每个像素点的灰度值，获取预设的图像灰度值与剥离材料所产生的拉力值之间的映射关系，基于映射关系和每个像素点的灰度值，确定待评估图像中的多个缺陷的数字化检测区域，以及每个缺陷的数字化检测区域对应的区域拉力值，基于多个缺陷的数字化检测区域和每个缺陷的数字化检测区域对应的区域拉力值，确定待检测材料的缺陷评估结果。本申请能够对待检测材料进行细化评测，能够清楚全面的了解材料的缺陷情况，得到待检测材料的综合评估结果，可以实现对材料合格与否的判定。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 缺陷 检测 评估 方法 装置 电子设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
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