[发明专利]高精度模数转换芯片的测试装置和测试方法在审
| 申请号： | 202010935169.1 | 申请日： | 2020-09-08 |
| 公开（公告）号： | CN114157297A | 公开（公告）日： | 2022-03-08 |
| 发明（设计）人： | 邴春秋 | 申请（专利权）人： | 圣邦微电子（北京）股份有限公司 |
| 主分类号： | H03M1/10 | 分类号： | H03M1/10 |
| 代理公司： | 北京成创同维知识产权代理有限公司 11449 | 代理人： | 蔡纯;李镇江 |
| 地址： | 100089 北京市海淀*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种高精度模数转换芯片的测试装置和测试方法，该测试装置包括：电源模块，用于提供高精度的多个模拟输入信号，所述多个模拟输入信号经过多个待测模数转换芯片后被转换为多组数字信号；数字万用表，与待测模数转换芯片的输入端连接，用于对所述多个模拟输入信号进行精准测量，以获得对应的多个测量值；测试机，用于将所述多个测试值依次和所述多组数字信号中的一组数字信号进行对比，以分别获得多个待测模数转换芯片的测试精度，其中，每组数字信号均对应包括多个数字信号。本发明实现了对待测模数转换芯片的高精度和高效率的测试，有利于实现待测模数转换芯片的稳定量产测试。 | ||
| 搜索关键词： | 高精度 转换 芯片 测试 装置 方法 | ||
【主权项】：
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