[发明专利]一种基于低秩恢复模型的日冕物质抛射检测方法在审

专利信息
申请号: 202010939959.7 申请日: 2020-09-09
公开(公告)号: CN112102273A 公开(公告)日: 2020-12-18
发明(设计)人: 尚振宏;杨志鹏;辛泽寰;冼祥贵;耿成杰 申请(专利权)人: 昆明理工大学
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00;G06T7/11;G06T7/136;G06T7/194;G06T7/254;G06T5/00
代理公司: 昆明普发诺拉知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 53209 代理人: 蒋晗
地址: 650000 云南*** 国省代码: 云南;53
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摘要: 发明公开了一种基于低秩恢复模型的日冕物质抛射检测方法,包括以下步骤:步骤1,对从SOHO主页上下载的LASCO C2图像进行图像预处理,对日冕图像进行去噪声、筛选处理;步骤2,将经过步骤1得到的LASCO C2图像经过进行图像灰度化、图像旋转和翻转操作;步骤3,将经过步骤2处理后的日冕图像转换到极坐标下进行表示;步骤4,利用基于低秩恢复模型的方法提取日冕图像中的运动目标;步骤5:微调低秩恢复模型参数,将日冕物质抛射与冕旒区分开来,利用图像三帧差分进行运动目标提取,最终得到日冕物质抛射。所述方法检测速度快,精度大大提高。
搜索关键词: 一种 基于 恢复 模型 日冕 物质 抛射 检测 方法
【主权项】:
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