[发明专利]一种提高差分干涉测量技术获取地表形变精度的方法在审
申请号: | 202010941965.6 | 申请日: | 2020-09-09 |
公开(公告)号: | CN112034462A | 公开(公告)日: | 2020-12-04 |
发明(设计)人: | 常占强;杨箐;张妍欣;王延巧 | 申请(专利权)人: | 首都师范大学 |
主分类号: | G01S13/90 | 分类号: | G01S13/90;G01B7/16 |
代理公司: | 北京科迪生专利代理有限责任公司 11251 | 代理人: | 安丽 |
地址: | 100048 北*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明涉及一种提高差分干涉测量技术获取地表形变精度的方法,步骤1:数据资料收集:SAR系统参数、SAR卫星轨道参数、SAR单视复数数据的收集;步骤2:由轨道参数计算出各SAR像对垂直基线,用本发明提供的原则选择差分像对与地形像对;步骤3:进行差分干涉处理,获取研究区域地表形变信息;步骤4:用本发明提供的数学模型,计算由差分干涉测量获取的地表形变误差、评估差分干涉测量精度。本发明基于SAR系统参数、卫星轨道参数,计算各SAR像对垂直基线,经对比各像对的垂直基线优选出差分像对和地形像对;再经差分干涉处理获取较高精度的研究区域地表形变信息;最后评估干涉测量精度。 | ||
搜索关键词: | 一种 提高 干涉 测量 技术 获取 地表 形变 精度 方法 | ||
【主权项】:
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