[发明专利]一种测量电学参数低温特性的装置和方法有效
| 申请号： | 202010944999.0 | 申请日： | 2020-09-10 |
| 公开（公告）号： | CN112285452B | 公开（公告）日： | 2023-03-03 |
| 发明（设计）人： | 孔祥明;邢红玉;高娜;叶文江 | 申请（专利权）人： | 河北工业大学 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00;G01R1/04;G01R1/02 |
| 代理公司： | 北京德崇智捷知识产权代理有限公司 11467 | 代理人： | 王欣 |
| 地址： | 300130 天津市红桥区*** | 国省代码： | 天津;12 |
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| 摘要： | 本说明书一个或多个实施例公开了一种测量电学参数低温特性的装置和方法，主要包括：使用半导体制冷片冷端对测量腔室进行制冷，并通过温度传感器和控制器对测量腔室温度进行闭环控制，通过空气作为媒质对待测电学元件进行热交换以实现低温环境。待测电学元件通过吊架置入测量腔室，既能保证待测电学元件与电连接端子的电连接可靠性、待测电学元件与测量腔室的电绝缘性，又能避免待测电学元件与测量腔室内壁直接接触建立冷桥对测量结果造成影响。测量腔室外壁有绝热层保障恒温环境，半导体制冷片热端的热量通过散热器散出。从而，提升低温测量的效率和准确性，以及安全性。而且，价格低、小巧、噪音小、无振动、使用简单、易维护、无耗材、功耗小。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测量 电学 参数 低温 特性 装置 方法 | ||
【主权项】：
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