[发明专利]一种基于相对辐射校正系数检测探元响应状态变化的方法在审
| 申请号： | 202010945198.6 | 申请日： | 2020-09-10 |
| 公开（公告）号： | CN112184570A | 公开（公告）日： | 2021-01-05 |
| 发明（设计）人： | 王红钢;赵薇薇;刘鹏;林向阳;王艳;杨宇科;刘佳佳 | 申请（专利权）人： | 中国人民解放军61646部队 |
| 主分类号： | G06T5/00 | 分类号： | G06T5/00;G06T5/40 |
| 代理公司： | 北京丰浩知识产权代理事务所(普通合伙) 11781 | 代理人： | 李学康 |
| 地址： | 100192*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明针对当前星上相机探元响应状态变化难以检测的问题，提出了一种基于相对辐射校正系数检测探元响应状态变化的方法，具体为：生成单探元灰度直方图和综合灰度直方图；基于生成的单探元灰度直方图和综合灰度直方图，构建灰度映射关系；以综合灰度直方图作为基准，基于不同时期的单探元灰度直方图以及建立的灰度映射关系，计算得到不同的相对辐射校正系数；通过对比相对辐射校正系数中单探元灰度映射的变化情况，完成对探元响应状态变化的检测。本发明实现了光学相机探元响应变化程度的检测，通过本发明提供的方法可以解决相机常态运行过程中探元响应变化检测的问题，为长期监测光学卫星相机探元响应稳定性提供了参考依据。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 相对 辐射 校正 系数 检测 响应 状态 变化 方法 | ||
【主权项】：
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