[发明专利]斯托克斯偏振测量装置、测量方法及超表面阵列构建方法有效
| 申请号： | 202010952893.5 | 申请日： | 2020-09-11 |
| 公开（公告）号： | CN112129410B | 公开（公告）日： | 2021-09-03 |
| 发明（设计）人： | 郑国兴;梁聪玲;李子乐;单欣;李仲阳 | 申请（专利权）人： | 武汉大学 |
| 主分类号： | G01J4/00 | 分类号： | G01J4/00 |
| 代理公司： | 武汉科皓知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 42222 | 代理人： | 罗敏清 |
| 地址： | 430072 湖*** | 国省代码： | 湖北;42 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： |
本发明提供一种斯托克斯偏振测量装置，包括依次设置的超表面阵列、线性偏振片以及成像装置；其测量方法包括将偏振待测光波依次入射超表面阵列、线性偏振片，再由成像装置记录出射光波的空间光强分布，根据出射光波的空间光强分布，由最小二乘法计算偏振待测光波的斯托克斯矢量；超表面阵列构建方法中纳米砖结构单元的纳米砖转向角α由纳米砖中心点的位置坐标(r,θ)确定，其满足的函数关系为：α＝f(r,θ)，其中f(r,θ)满足 |
||
| 搜索关键词： | 斯托 偏振 测量 装置 测量方法 表面 阵列 构建 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于武汉大学，未经武汉大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202010952893.5/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种工作平台水平受力测试装置
- 下一篇：一种车衣装置及车辆
