[发明专利]一种基于低温等离子体检测设备绝缘缺陷的系统及方法在审
| 申请号： | 202010953904.1 | 申请日： | 2020-09-11 |
| 公开（公告）号： | CN112255509A | 公开（公告）日： | 2021-01-22 |
| 发明（设计）人： | 冯彦君;王尚民;胡向晖;邢川;杨凯飞;王睿;武长青 | 申请（专利权）人： | 中国空间技术研究院 |
| 主分类号： | G01R31/12 | 分类号： | G01R31/12;G01R31/52;G01R31/08;H05H1/24 |
| 代理公司： | 中国航天科技专利中心 11009 | 代理人： | 王永芳 |
| 地址： | 100194 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本申请公开了一种基于低温等离子体检测设备绝缘缺陷的系统及方法，该系统包括：等离子体炬发生装置以及绝缘缺陷检测装置；其中，所述等离子体炬发生装置，用于根据预设的最高等离子体档位生成第一低温等离子体，并将所述第一低温等离子体喷射到待检测设备上，其中，等离子体档位用于表征生成的低温等离子的密度或活性；所述绝缘缺陷检测装置，用于在喷射所述第一低温等离子体的待检测设备上遍历扫描，检测出所述待检测设备存在的绝缘缺陷。本申请解决了现有技术中对设备绝缘缺陷检测的可靠性较差的技术问题。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 低温 等离子体 检测 设备 绝缘 缺陷 系统 方法 | ||
【主权项】：
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