[发明专利]一种故障定位自测试系统及方法在审
申请号: | 202010958736.5 | 申请日: | 2020-09-14 |
公开(公告)号: | CN112269364A | 公开(公告)日: | 2021-01-26 |
发明(设计)人: | 苏东泽;信朝阳;乔道鹏 | 申请(专利权)人: | 北京电子工程总体研究所 |
主分类号: | G05B23/02 | 分类号: | G05B23/02 |
代理公司: | 北京正理专利代理有限公司 11257 | 代理人: | 付生辉 |
地址: | 100854*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明公开了一种故障定位自测试系统和方法,该系统包括光耦隔离电路、PXI机箱、分析单元、信号调理器、数字信号缓冲器、上位计算机及微处理器,其中PXI机箱包括PXI机箱背板,PXI机箱背板上插有自激励响应模块、三用表模块、通讯模块、功率计算模块、采样保持电路和AD模块,分析单元包括电压电流分析模块、数字信号分析模块、功率分析模块及波形分析模块。与现有测试系统相比,在测试系统中增加了故障定位和便携功能,将现有的测试系统改进为BIT技术的便携设备,从而满足故障特征提取、知识库的建立和可携带办公设备的实现。另外具有很好的自动化、通用化和智能化的应用,可借鉴设计思路批量推广使用。 | ||
搜索关键词: | 一种 故障 定位 测试 系统 方法 | ||
【主权项】:
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