[发明专利]一种故障定位自测试系统及方法在审

专利信息
申请号: 202010958736.5 申请日: 2020-09-14
公开(公告)号: CN112269364A 公开(公告)日: 2021-01-26
发明(设计)人: 苏东泽;信朝阳;乔道鹏 申请(专利权)人: 北京电子工程总体研究所
主分类号: G05B23/02 分类号: G05B23/02
代理公司: 北京正理专利代理有限公司 11257 代理人: 付生辉
地址: 100854*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种故障定位自测试系统和方法,该系统包括光耦隔离电路、PXI机箱、分析单元、信号调理器、数字信号缓冲器、上位计算机及微处理器,其中PXI机箱包括PXI机箱背板,PXI机箱背板上插有自激励响应模块、三用表模块、通讯模块、功率计算模块、采样保持电路和AD模块,分析单元包括电压电流分析模块、数字信号分析模块、功率分析模块及波形分析模块。与现有测试系统相比,在测试系统中增加了故障定位和便携功能,将现有的测试系统改进为BIT技术的便携设备,从而满足故障特征提取、知识库的建立和可携带办公设备的实现。另外具有很好的自动化、通用化和智能化的应用,可借鉴设计思路批量推广使用。
搜索关键词: 一种 故障 定位 测试 系统 方法
【主权项】:
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