[发明专利]一种多孔介质的选层T2弛豫谱快速测试方法在审
| 申请号： | 202010964273.3 | 申请日： | 2020-09-14 |
| 公开（公告）号： | CN112129801A | 公开（公告）日： | 2020-12-25 |
| 发明（设计）人： | 王为民;马德铭;朱涛涛;丁耀 | 申请（专利权）人： | 北京大学;北京斯派克科技发展有限公司 |
| 主分类号： | G01N24/08 | 分类号： | G01N24/08 |
| 代理公司： | 北京万象新悦知识产权代理有限公司 11360 | 代理人： | 黄凤茹 |
| 地址： | 100871*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公布了一种多孔介质的选层T2弛豫谱快速测试方法，通过设计具有选层功能的T2弛豫谱测试脉冲序列，在恒定选层梯度下，用CPMG脉冲序列同时对空间位置点进行选层编码，实现多孔介质中不同选层位置的核磁共振T2弛豫谱的测试分析，能够获取多孔介质不同位置的物性参数特征。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 多孔 介质 t2 弛豫谱 快速 测试 方法 | ||
【主权项】：
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