[发明专利]基于p型NiO薄膜和斜面终端结构的肖特基二极管及其制作方法有效

专利信息
申请号: 202010964527.1 申请日: 2020-09-15
公开(公告)号: CN112038416B 公开(公告)日: 2021-09-03
发明(设计)人: 冯倩;于明扬;胡志国;田旭升;马红叶;徐周蕊;张进成;张春福;张雅超 申请(专利权)人: 西安电子科技大学
主分类号: H01L29/872 分类号: H01L29/872;H01L21/329;H01L29/06;H01L29/24
代理公司: 陕西电子工业专利中心 61205 代理人: 王品华
地址: 710071*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明公开了一种基于p型NiO薄膜和斜面终端结构的肖特基二极管,主要解决现有肖特基二极管器件击穿电压过低无法广泛应用在高压高功率器件中的问题。其自下而上包括:欧姆接触金属Au层、欧姆接触金属Ti层、高掺杂n型Ga2O3衬底、低掺杂n型Ga2O3薄膜和p型NiO薄膜,该低掺杂n型Ga2O3薄膜两侧刻有斜面终端结构,p型NiO薄膜两侧刻有斜面终端结构,p型NiO薄膜中间设有深度至低掺杂n型Ga2O3薄膜的凹槽,凹槽和p型NiO薄膜上设有肖特基电极Ni层和肖特基电极Au层。本发明避免了在反向关断时随着电压的增加在肖特基结边缘处电场过度集中分布的问题,提高了击穿电压,可用作功率器件和高压开关器件。
搜索关键词: 基于 nio 薄膜 斜面 终端 结构 肖特基 二极管 及其 制作方法
【主权项】:
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