[发明专利]渐进式在轨推扫式中短波红外成像光谱仪暗背景去除方法在审
| 申请号： | 202010965487.2 | 申请日： | 2020-09-15 |
| 公开（公告）号： | CN112284535A | 公开（公告）日： | 2021-01-29 |
| 发明（设计）人： | 刘成玉;徐睿;何志平;袁立银;谢佳楠;金健;李春来;王蓉 | 申请（专利权）人： | 中国科学院上海技术物理研究所 |
| 主分类号： | G01J3/28 | 分类号： | G01J3/28 |
| 代理公司： | 上海沪慧律师事务所 31311 | 代理人： | 郭英 |
| 地址： | 200083 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种渐进式在轨推扫式中短波红外成像光谱仪暗背景去除方法，该方法步骤如下：(1)实验室内采集仪器所有可能的工作环境温度下所有积分时间的全幅暗背景数据；(2)根据实验室内获取的全幅暗背景数据计算校正系数矩阵；(3)结合在轨采集的全幅暗背景数据更新校正数矩阵；(4)在轨成像数据暗背景扣除。本发明的方法以扫式中短波红外成像光谱仪暗背景产生机理为基础，充分考虑了数据的完备性和仪器在轨运行时的衰减，是一种可持续的、准确性好的在轨推扫式中短波红外成像光谱仪数据暗背景去除方法。 | ||
| 搜索关键词： | 渐进 轨推扫式 中短波 红外 成像 光谱仪 背景 去除 方法 | ||
【主权项】：
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