[发明专利]一种受颗粒物污染的电接触表面接触电阻的模拟测试方法在审
| 申请号： | 202010965577.1 | 申请日： | 2020-09-15 |
| 公开（公告）号： | CN112213239A | 公开（公告）日： | 2021-01-12 |
| 发明（设计）人： | 袁文辉;蒋忠城;张俊;廖家鹏;刘晓波;王先锋;郭冰彬;李旺;江大发;李登科;何妙;李中意;何辉永;邱昂;罗志翔 | 申请（专利权）人： | 中车株洲电力机车有限公司 |
| 主分类号： | G01N15/00 | 分类号： | G01N15/00;G01N27/04 |
| 代理公司： | 长沙正奇专利事务所有限责任公司 43113 | 代理人： | 卢宏;胡凌云 |
| 地址： | 412001 *** | 国省代码： | 湖南;43 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种受颗粒物污染的电接触表面接触电阻的模拟测试方法，包括如下步骤：提供待研究试样和陪试试样；所述待研究试样具有供测试用的平整表面；在待研究试样的服役环境中采集污染颗粒，再将污染颗粒分散于无水乙醇中，配制具有目标质量浓度的污染颗粒分散液；然后，将待研究试样的平整表面浸没于污染颗粒分散液中，进行浸泡处理后，取出，干燥，获得平整表面上均匀地分布有污染颗粒的待研究试样。对所述待研究试样和陪试试样进行电接触摩擦试验，采集数据并分析处理，获得电接触表面接触电阻的变化情况。本发明的模拟测试方法可以最大限度地模拟和复原受颗粒物污染的实际电接触表面，实现受颗粒物污染的电接触表面接触电阻的精确测量。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 颗粒 污染 接触 表面 电阻 模拟 测试 方法 | ||
【主权项】：
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