[发明专利]集成电路芯片的自动开发方法及装置、电子设备在审
申请号: | 202010970288.0 | 申请日: | 2020-09-15 |
公开(公告)号: | CN112100949A | 公开(公告)日: | 2020-12-18 |
发明(设计)人: | 钟裕捷;张钰玫 | 申请(专利权)人: | 北京士昌鼎科技有限公司 |
主分类号: | G06F30/327 | 分类号: | G06F30/327 |
代理公司: | 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463 | 代理人: | 钟扬飞 |
地址: | 100000 北京市朝*** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本申请提供一种集成电路芯片的自动开发方法及装置、电子设备,该方法包括:获取芯片管脚定义文件、模块连接定义文件以及模块寄存器定义文件;根据所述芯片管脚定义文件、模块连接定义文件以及模块寄存器定义文件,生成RTL代码;根据所述模块寄存器定义文件,通过智能仿真引擎生成芯片各个模块寄存器验证用例;依次通过智能综合引擎、智能可测试引擎以及智能形式验证引擎,生成综合运行环境、生成可测试电路运行环境、生成形式验证运行环境。本申请实施例提供的技术方案可以大幅度的降低人为的干预以及人为造成的问题。 | ||
搜索关键词: | 集成电路 芯片 自动 开发 方法 装置 电子设备 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京士昌鼎科技有限公司,未经北京士昌鼎科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202010970288.0/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种解剖特征点匹配获取面中部缺损目标参照数据方法
- 下一篇:一种组装式天线