[发明专利]涂层析气成分检测质谱系统及方法在审
| 申请号： | 202010972944.0 | 申请日： | 2020-09-16 |
| 公开（公告）号： | CN112114067A | 公开（公告）日： | 2020-12-22 |
| 发明（设计）人： | 蒋公羽;庞骏德;郭锡岩;朱勇勇;徐骏;姚如娇;何洋;沈辉;潘阳阳;查文鑫;刘宇峰;景加荣 | 申请（专利权）人： | 上海裕达实业有限公司 |
| 主分类号： | G01N30/02 | 分类号： | G01N30/02;G01N30/06;G01N30/08;G01N30/72;G01N30/86 |
| 代理公司： | 上海段和段律师事务所 31334 | 代理人： | 李佳俊;郭国中 |
| 地址： | 200245 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种涂层析气成分检测质谱系统及方法，包括：涂层热脱附解析器、带有捕集板的中转舱、分离定量模块、直接接口模块、高精度质谱分析模块、真空模块以及远程测控单元；所分析的涂层样品安装在涂层热脱附解析器内，该涂层热脱附解析器与中转舱连接，并连接分离定量模块使各析气成分分离，通过高精度质谱分析模块分析各析气成分的具体化学组成。本发明的涂层材料的真空热试验解析成分质谱检测系统可对航天材料热析气中的污染多余物进行多通道同步实时动态监测，实现对航天器关键材料析气情况在分子水平上的判定溯源，具有灵敏度好、精度高等优点。 | ||
| 搜索关键词： | 涂层 成分 检测 谱系 方法 | ||
【主权项】：
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