[发明专利]基于散斑场相位恢复的复杂光学曲面面形误差检测方法在审

专利信息
申请号: 202010973974.3 申请日: 2020-09-16
公开(公告)号: CN112097681A 公开(公告)日: 2020-12-18
发明(设计)人: 何宇航;刘旭;刘勇;柴立群 申请(专利权)人: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
主分类号: G01B11/24 分类号: G01B11/24;G01M11/02
代理公司: 北京慕达星云知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 11465 代理人: 曹鹏飞
地址: 621900*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明公开了基于散斑场相位恢复的复杂光学曲面面形误差检测方法,基于随机振幅掩膜板调制的波前恢复方案设计,采用随机振幅掩膜板对波前信息进行调制,将低空间频率分布的强度图案转化为高空间频率分布的散斑图案,有利于波前重建算法恢复高保真度的波前信息;将被测元件与随机振幅掩膜板由望远成像系统构成物像共轭关系,使得随机振幅掩膜板处的波前相位可以直接映射到元件的波前相位,不需要对随机振幅掩膜板的振幅信息事先进行标定;该方法使其测量精度与光斑采集的位置无关,可以应用于复杂光学曲面面形误差的高精度检测,测量精度的稳定性较高。
搜索关键词: 基于 散斑场 相位 恢复 复杂 光学 曲面 误差 检测 方法
【主权项】:
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