[发明专利]一种模拟空间环境下大视场高精度结构变形测量系统有效

专利信息
申请号: 202010981066.9 申请日: 2020-09-17
公开(公告)号: CN112284278B 公开(公告)日: 2022-07-05
发明(设计)人: 唐小军;回天力;于文涛;杨凤龙;孙子杰;田欣;李大松;郑立豪 申请(专利权)人: 北京卫星制造厂有限公司
主分类号: G01B11/16 分类号: G01B11/16;G01B11/00
代理公司: 中国航天科技专利中心 11009 代理人: 臧春喜
地址: 100190*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种模拟空间环境下大视场高精度结构变形测量系统,包括:空间环境模拟罐体、安装底板、测量基座、测量运动机构、测量运动滑槽结构、运动机构控制线路、运动机构控制软硬件系统、局部环境控制与视觉测量线路、局部环境控制与视觉测量软硬件系统和图像获取单元;测量基座的两端分别连接空间环境模拟罐体和测量运动滑槽结构;测量运动机构与测量运动滑槽结构连接;测量运动机构下方依次设置有图像获取单元和安装底板;运动机构控制软硬件系统通过运动机构控制线路与测量运动机构连接;局部环境控制与视觉测量软硬件系统通过局部环境控制与视觉测量线路与图像获取单元连接。本发明解决了在模拟环境下大视场高精度结构变形场测量的问题。
搜索关键词: 一种 模拟 空间 环境 视场 高精度 结构 变形 测量 系统
【主权项】:
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