[发明专利]一种空间切片合成图像分析配光曲线的测量系统及方法在审

专利信息
申请号: 202010981319.2 申请日: 2020-09-17
公开(公告)号: CN112067257A 公开(公告)日: 2020-12-11
发明(设计)人: 高加弘;洪硕科 申请(专利权)人: 南京弘新锐科技有限公司;东南大学江北新区创新研究院
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02;G01J1/00;G01J1/02
代理公司: 深圳深瑞知识产权代理有限公司 44495 代理人: 穆瑞丹
地址: 211800 江苏省*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种空间切片合成图像分析配光曲线的测量系统及方法,包括图像合成分析主机、摄像机、灯具固定架以及反射板组;摄像机、灯具固定架以及反射板组均设置于暗室内,且反射板组分布设置在摄像机以及灯具固定架的前侧;摄像机与图像合成分析主机电连接;灯具固定架用于安装待测灯具,且灯具固定架的角度可调节。该测量系统能够对复杂配光、宽配光及组合灯具的配光曲线进行测量与验证,测量快速、直观;利用角度可调节的灯具固定架,能够对待测灯具的角度进行调节,从而满足不同角度的扫描测试;利用图像合成分析主机能够合成图像,可在减小测试空间的情况下获得足够的分析图像,利用空间切片方式简化了计算、提高了测量精度。
搜索关键词: 一种 空间 切片 合成 图像 分析 曲线 测量 系统 方法
【主权项】:
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