[发明专利]X射线CT装置及其校正方法和装置、测定方法和装置在审
| 申请号： | 202010983851.8 | 申请日： | 2020-09-18 |
| 公开（公告）号： | CN112535490A | 公开（公告）日： | 2021-03-23 |
| 发明（设计）人： | 浅野秀光;今正人 | 申请（专利权）人： | 株式会社三丰 |
| 主分类号： | A61B6/03 | 分类号： | A61B6/03;G01N23/046 |
| 代理公司： | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人： | 刘新宇 |
| 地址： | 日本神*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种X射线CT装置及其校正方法和装置、测定方法和装置，在使尺寸预先已知的球形校正治具(30)与被检体(W)接触的状态下进行CT扫描来生成体数据，获取该体数据中的被检体(W)表面形状的轮廓，并且根据球形校正治具(30)的中心坐标来计算球形校正治具(30)的边界面，求出用于使根据所述轮廓的斜率求出的被检体W的边界面与球形校正治具(30)的边界面一致的校正值，使用该校正值来校正被检体(W)的边界面，使用该校正后的边界面来求出被检体(W)的形状。由此，通过高精度地检测被检体的边界面来实现测量用X射线CT的高精度化。 | ||
| 搜索关键词： | 射线 ct 装置 及其 校正 方法 测定 | ||
【主权项】：
暂无信息
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