[发明专利]一种微控制器总剂量辐照失效单元实验判定系统及方法有效
| 申请号： | 202010985912.4 | 申请日： | 2020-09-18 |
| 公开（公告）号： | CN112213975B | 公开（公告）日： | 2021-12-03 |
| 发明（设计）人： | 陈法国;梁润成;郭荣;李国栋;韩毅 | 申请（专利权）人： | 中国辐射防护研究院 |
| 主分类号： | G05B19/042 | 分类号： | G05B19/042 |
| 代理公司： | 北京天悦专利代理事务所(普通合伙) 11311 | 代理人： | 田明;祝倩 |
| 地址： | 030006 山*** | 国省代码： | 山西;14 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种微控制器总剂量辐照失效单元实验判定系统及方法，所述实验判定系统包括被测微控制器、数据采集单元、通讯和供电单元、上位机、准直定位照射单元、跟随剂量计和屏蔽体；所述实验判定方法采用同一型号、同一批次的微控制器分为三组实验样品，进行单一变量控制实验。本发明提供的微控制器总剂量辐照失效单元实验判定系统及方法能够通过控制单一实验变量来分辨微控制器的内部失效单元，确定微控制器的辐照敏感部位，弥补传统功能校验方法的不足。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 控制器 剂量 辐照 失效 单元 实验 判定 系统 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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