[发明专利]一种基于光学跟踪测量设备伺服系统的跟踪评估方法有效

专利信息
申请号: 202010986767.1 申请日: 2020-09-18
公开(公告)号: CN112444374B 公开(公告)日: 2022-10-11
发明(设计)人: 胡长德;海书亮;刘强;刘浩;耿华芳;李竟然;丁萌;李子杨;朱荣臻;李荣 申请(专利权)人: 中国人民解放军战略支援部队航天工程大学士官学校
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02;G06T7/246;G06V10/75
代理公司: 北京集智东方知识产权代理有限公司 11578 代理人: 陈亚斌;关兆辉
地址: 102200*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种基于光学跟踪测量设备伺服系统的跟踪评估方法,该方法包括:基于目标特性及所述目标所处的背景特性,选择跟踪方式,所述跟踪方式包括电视自动跟踪方式和多传感器融合跟踪方式;基于选择的跟踪方式进行目标跟踪,获取在目标跟踪过程中N帧连续跟踪图像;基于所述N帧连续跟踪图像,获取目标的中心偏离视场中心的方位脱靶量ΔAi和俯仰脱靶量ΔEi;基于方位脱靶量ΔAi和俯仰脱靶量ΔEi,获取方位脱靶量均值俯仰脱靶量均值方位脱靶量均值标准差σA和俯仰脱靶量标准差σE;评估目标跟踪精度。本发明可根据不同的目标类型选择自动跟踪精度更高的方式去跟踪目标,能够对不同的光学跟踪测量设备的伺服系统跟踪精度进行评估。
搜索关键词: 一种 基于 光学 跟踪 测量 设备 伺服系统 评估 方法
【主权项】:
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