[发明专利]磁角度传感器测试装置在审
申请号: | 202010987231.1 | 申请日: | 2020-09-18 |
公开(公告)号: | CN112097635A | 公开(公告)日: | 2020-12-18 |
发明(设计)人: | 黄黎;蒋乐跃;丁希聪;苏云鹏 | 申请(专利权)人: | 美新半导体(天津)有限公司 |
主分类号: | G01B7/30 | 分类号: | G01B7/30 |
代理公司: | 苏州简理知识产权代理有限公司 32371 | 代理人: | 朱亦倩 |
地址: | 300450 天津市滨海新区临港经济区*** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: | 本发明提供一种磁角度传感器测试装置,其包括:电机,其包括电机主体和电机转轴;磁场源,其用于产生外磁场,其固定于所述电机转轴上,随所述电机转轴旋转;支撑体,其用于固定待测磁角度传感器,其中,固定于所述支撑体上的待测磁角度传感器的感测平面与所述磁角度传感器测试装置所在区域的地磁场的方向垂直。与现有技术相比,在本发明的磁角度传感器测试装置中,使待测磁角度传感器的感测平面与所述磁角度传感器测试装置所在区域的地磁场的方向垂直,使得地磁场在待测磁角度传感器的感测平面的分量为0,从而消除或降低地磁场对磁角度传感器的转角测试的影响,使测试更为准确。 | ||
搜索关键词: | 角度 传感器 测试 装置 | ||
【主权项】:
暂无信息
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