[发明专利]微波电磁参数三维测试系统及其方法有效

专利信息
申请号: 202010995964.X 申请日: 2020-09-21
公开(公告)号: CN112098732B 公开(公告)日: 2023-07-25
发明(设计)人: 温维佳;胡传灯 申请(专利权)人: 深圳市环波科技有限责任公司
主分类号: G01R29/08 分类号: G01R29/08
代理公司: 北京商专润文专利代理事务所(普通合伙) 11317 代理人: 欧菊花
地址: 518000 广东省深圳市龙华区龙*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开一种微波电磁参数三维测试系统,包括PC控制端分别与三轴运动控制器和矢量网络分析仪相连,用于获取矢量网络分析仪的数据,并根据不同的命令进行控制三轴运动控制器;三轴运动控制器用于根据PC控制端的命令控制三维运动平台的整体运行;矢量网络分析仪和天线装置连接,用于给天线测量装置提供扫频信号和测量不同空间位置的电磁场;天线测量装置位于三维运动平台上,运动到三维运动平台的不同空间位置对待测样品的测量;测距模块用于对待测样品在系统内的位置采集,保障天线测量装置准确测量到待测样品表面的距离。由此,本申请保障了对材料进行无破坏测试的前提下,可以使系统对相对来说更大尺寸样品的测试,实现快速准确的测量。
搜索关键词: 微波 电磁 参数 三维 测试 系统 及其 方法
【主权项】:
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