[发明专利]一种基于Labview的X射线高压发生器自动化曝光测试系统和方法在审

专利信息
申请号: 202010999555.7 申请日: 2020-09-22
公开(公告)号: CN112006709A 公开(公告)日: 2020-12-01
发明(设计)人: 谢志华;刘岩;井元庆;郭一;张龙龙 申请(专利权)人: 深圳市安健科技股份有限公司
主分类号: A61B6/00 分类号: A61B6/00
代理公司: 广东前海律师事务所 44323 代理人: 李雪
地址: 518000 广东省深圳市*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了一种基于Labview的X射线高压发生器自动化曝光测试系统,包括上位机、数据采集装置、X射线高压发生器、总线、总线接口和基于labview软件建立的控制模块;上位机通过总线接口分别与数据采集装置和X射线高压发生器电连接;X射线高压发生器通过总线接口与数据采集装置电连接;上位机通过控制模块向数据采集装置和X射线高压发生器输出控制信号;X射线高压发生器接收控制信号,并根据控制信号产生自动化曝光动作;上位机通过控制模块对测试数据进行处理和分析得出测试结果。有益效果在于:本发明基于Labview软件实现X射线高压发生器自动化曝光测试,测试系统简单、便携、减少了测试人员的重复劳动,提高了测试的效率和准确性。
搜索关键词: 一种 基于 labview 射线 高压发生器 自动化 曝光 测试 系统 方法
【主权项】:
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