[发明专利]一种用于线结构光非接触测量的光条中心提取方法有效
申请号: | 202010999750.X | 申请日: | 2020-09-22 |
公开(公告)号: | CN112241964B | 公开(公告)日: | 2022-12-27 |
发明(设计)人: | 王太勇;张凌雷;冯志杰;韩文灯 | 申请(专利权)人: | 天津大学 |
主分类号: | G06T7/136 | 分类号: | G06T7/136;G06T5/00;G06T7/60 |
代理公司: | 天津市北洋有限责任专利代理事务所 12201 | 代理人: | 张金亭 |
地址: | 300072*** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: | 本发明公开了一种用于线结构光非接触测量的光条中心提取方法,对图像依次进行感兴趣区域提取、初步噪声过滤及自适应阈值分割,得到最优二值化后的图像;再对图像依次进行中值和高斯滤波;再用骨架细化算法对光条中心进行粗提取,得到单像素的光条中心线并对中心点进行编号;采用k最近邻域法得到中心点的邻域中灰度不为零的N个像素点,由这N个像素点拟合一线段,采用主成分分析算法求得过中心点的单位法向量,对中心点邻域内且位于该单位法向量方向上的像素点的灰度值进行高斯函数拟合,将拟合后的高斯函数期望值作为最终的光条中心点坐标。重复上述过程直到所有点都遍历完,得到条纹中心的精确位置。本发明提高了光条中心的提取精度且效率高。 | ||
搜索关键词: | 一种 用于 结构 接触 测量 中心 提取 方法 | ||
【主权项】:
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