[发明专利]各向异性介质深度域成像的方法及装置在审

专利信息
申请号: 202011000068.1 申请日: 2020-09-22
公开(公告)号: CN112305589A 公开(公告)日: 2021-02-02
发明(设计)人: 杨宗青;李宏伟;杨晓;欧居刚;唐怡;周祺 申请(专利权)人: 中国石油天然气集团有限公司;中国石油集团东方地球物理勘探有限责任公司
主分类号: G01V1/28 分类号: G01V1/28;G01V1/30;G01V1/40
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 11127 代理人: 薛平;吴学锋
地址: 100007 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种各向异性介质深度域成像的方法及装置,该方法包括:根据工区的各向同性深度域解释层位数据,计算工区每一层位的偏移地层厚度;根据工区每一层位的偏移地层厚度和井位处的井震误差,对工区每一层位进行插值计算,确定工区每一层位结合地层厚度后的井震误差曲面;根据工区每一层位结合地层厚度后的井震误差曲面,建模得到工区的各向异性介质参数模型;对工区的各向异性介质参数模型进行各向异性叠前深度偏移处理,确定工区的各向异性介质深度域成像数据。本发明可结合偏移地层厚度,准确地进行各向异性介质参数模型建模,进而提高了各向异性介质深度域成像精度。
搜索关键词: 各向异性介质 深度 成像 方法 装置
【主权项】:
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