[发明专利]偏振光源、表面缺陷检测方法和装置在审
| 申请号： | 202011001183.0 | 申请日： | 2020-09-22 |
| 公开（公告）号： | CN112129764A | 公开（公告）日： | 2020-12-25 |
| 发明（设计）人： | 熊志勇;范建华;曾成;张晶 | 申请（专利权）人： | 珠海市运泰利自动化设备有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/88 | 分类号： | G01N21/88;G01N21/01 |
| 代理公司： | 广州市红荔专利代理有限公司 44214 | 代理人： | 王贤义;何承鑫 |
| 地址： | 519180 广东省珠*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种操作方便且能有效抑制高反光材料产品表面的强反光干扰的表面缺陷检测方法、表面缺陷检测装置及偏振光源。本发明设置偏振光源和表面缺陷检测装置，利用光的偏振特性消除高反光物体的镜面反射，但保留表面缺陷带来的散射光，通过成像模组获得若干偏振图像，再将这些偏振图像融合为一张包含有所有缺陷信息的图像，对图像进行缺陷检测算法分析计算，即得到该待测区域的缺陷检测结果；本发明采用偏振光高角度照明，从根本上解决了高反光的问题，因为光的偏振特性可以有效消除高反光物体的镜面反射，而无法消除表面缺陷带来的散射光，从而提高了缺陷区域的信噪比，降低机器视觉系统的漏检率。本发明可应用于测试领域。 | ||
| 搜索关键词： | 偏振 光源 表面 缺陷 检测 方法 装置 | ||
【主权项】：
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