[发明专利]电路板晶须物质的检测方法、计算机设备和存储介质在审
| 申请号： | 202011001531.4 | 申请日： | 2020-09-22 |
| 公开（公告）号： | CN112150433A | 公开（公告）日： | 2020-12-29 |
| 发明（设计）人： | 吴长雷;李勇;丁俊超;浦黎;纪庆泉;董世儒 | 申请（专利权）人： | 中广核核电运营有限公司;中国广核集团有限公司;中国广核电力股份有限公司 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06T7/13;G06T7/155;G06T7/90;G06T5/20;G06T5/00 |
| 代理公司： | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人： | 纪婷婧 |
| 地址： | 518048 广东省深圳市福田*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本申请涉及一种电路板晶须物质的检测方法、计算机设备和存储介质。电路板晶须物质的检测方法包括获取电路板检测图像。对电路板检测图像进行灰度化处理，获得电路板灰度图像。对电路板灰度图像进行中值滤波处理，获得滤波图像。对滤波图像进行二值化处理，获得二值化图像。对二值化图像进行边缘检测，获得边缘图像。对边缘图像进行轮廓检测，获得边缘图像中所有轮廓，并将所有轮廓内部填充为单一颜色，获得轮廓填充图像。对轮廓填充图像进行形态学开运算，获得开运算轮廓。若开运算轮廓为线形轮廓，则为电路板晶须物质的轮廓。通过电路板晶须物质的检测方法，不需要依靠人眼检测即可实现自动检测，具有效率高、准确率高等优势。 | ||
| 搜索关键词： | 电路板 物质 检测 方法 计算机 设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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