[发明专利]大晶粒铁基薄板金相组织的无损检测方法、系统及介质在审
| 申请号： | 202011002916.2 | 申请日： | 2020-09-22 |
| 公开（公告）号： | CN112213381A | 公开（公告）日： | 2021-01-12 |
| 发明（设计）人： | 付勇军;戴立红;张静;蒋奇武;陈跃;徐岩松;马福民;胡志刚;张海松 | 申请（专利权）人： | 湖北理工学院;黄石矿物加工研究院 |
| 主分类号： | G01N27/83 | 分类号： | G01N27/83 |
| 代理公司： | 重庆市信立达专利代理事务所(普通合伙) 50230 | 代理人： | 陈炳萍 |
| 地址： | 435000 *** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明属于金相组织无损检测技术领域，公开了一种大晶粒铁基薄板金相组织的无损检测方法、系统及介质，通过对大晶粒铁基薄板采用外加磁场，使晶界附近产生漏磁场，将封装在密闭容器中的磁悬浮液靠近漏磁场，磁悬浮液中的纳米磁性粒子将在漏磁场附近聚集，实现大晶粒晶界重构。磁悬浮液在不施加漏磁场时，磁性粒子均匀散布在液体介质中，磁悬浮液为透明状态；施加漏磁场后，在磁力作用下，漏磁场附近磁性粒子能快速聚集形成可视图像；去掉漏磁场后，聚集的磁性粒子能快速分散到液体介质中，再次变为透明状态。本发明通过对大晶粒铁基薄板采用特殊磁悬浮液法实现了大晶粒晶界的重构，达到金相组织无损检测的目的，降低劳动强度和提高检测效率。 | ||
| 搜索关键词： | 晶粒 薄板 金相 组织 无损 检测 方法 系统 介质 | ||
【主权项】：
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