[发明专利]凸透镜的凸面面形检测方法、装置及系统有效
| 申请号： | 202011003105.4 | 申请日： | 2020-09-22 |
| 公开（公告）号： | CN112097682B | 公开（公告）日： | 2021-10-08 |
| 发明（设计）人： | 安其昌;刘欣悦;张景旭;李洪文;唐境 | 申请（专利权）人： | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
| 主分类号： | G01B11/24 | 分类号： | G01B11/24 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 薛娇 |
| 地址： | 130033 吉林省长春市*** | 国省代码： | 吉林;22 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种凸透镜的凸面面形检测方法，包括：获得预定光波通过待测凸透镜透射输出的光波的第一波前信息；获得球面光波入射待测凸透镜的凹面并反射输出的光波的第二波前信息；根据第一波前信息和第二波前信息，确定待测凸透镜的凸面面形信息。本申请中在对一面为凹面另一面为凸面的凸透镜进行凸面面形检测时，通过预定光波经过凸透镜透射后的光波的第一波前信息，和球面光波经过凸透镜凹面反射输出的第二波前信息，间接获得凸透镜的凸面面形信息，在很大程度上简化了凸透镜的凸面面形检测的难度，有利于大口径凸透镜在天文望远镜中的广泛应用。本申请还提供了一种凸透镜的凸面面形检测装置及系统，具有上述有益效果。 | ||
| 搜索关键词： | 凸透镜 凸面 检测 方法 装置 系统 | ||
【主权项】：
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