[发明专利]一种自旋转扫描式线结构光三维测量装置标定方法有效
申请号: | 202011008958.7 | 申请日: | 2020-09-23 |
公开(公告)号: | CN112179291B | 公开(公告)日: | 2022-03-29 |
发明(设计)人: | 赵建平;钦星辰;冯常;张质子;程勇;蔡根;廖礼斌;王从政;陈志波;杨丽 | 申请(专利权)人: | 中国科学院光电技术研究所 |
主分类号: | G01B11/25 | 分类号: | G01B11/25 |
代理公司: | 北京科迪生专利代理有限责任公司 11251 | 代理人: | 杨学明 |
地址: | 610209 *** | 国省代码: | 四川;51 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明公开了一种自旋转扫描式线结构光三维测量装置标定方法,属于三维测量技术领域。自旋转扫描式线结构光三维测量装置主要由线结构光轮廓测量仪和高精度转台构成,通常自旋转扫描式线结构光三维测量装置的坐标系基于高精度旋转台的旋转轴心建立,与线结构光轮廓测量仪坐标系并不重合,而二者之间的位置关系通过机械安装并不能精确确定。本发明的标定方法借助平面靶标,实现对线结构光轮廓测量仪的坐标系和自旋转扫描式线结构光三维测量装置的坐标系之间位置参数的标定,该方法简便有效,有利于提高自旋转扫描式线结构光三维测量装置的测量精度。 | ||
搜索关键词: | 一种 旋转 扫描 结构 三维 测量 装置 标定 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院光电技术研究所,未经中国科学院光电技术研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202011008958.7/,转载请声明来源钻瓜专利网。