[发明专利]一种晶界扩散类钕铁硼的成分分析制样方法在审
| 申请号： | 202011010723.1 | 申请日： | 2020-09-23 |
| 公开（公告）号： | CN112098172A | 公开（公告）日： | 2020-12-18 |
| 发明（设计）人： | 喻玺;庞再升;钟春燕;戚植奇 | 申请（专利权）人： | 赣州富尔特电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N1/28 | 分类号： | G01N1/28;G01N1/34;G01N1/44 |
| 代理公司： | 杭州兴知捷专利代理事务所(特殊普通合伙) 33338 | 代理人： | 董建军 |
| 地址： | 341001 江西省赣*** | 国省代码： | 江西;36 |
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| 摘要： | 本发明涉及晶界扩散类钕铁硼成分分析技术领域，且公开了一种晶界扩散类钕铁硼的成分分析制样方法，包括以下步骤：S1、钕铁硼前处理，S2、制作晶界扩散类钕铁硼，S3、晶界扩散类钕铁硼的选取，S4、清洗烘干，S5样品粉碎，S6样品分析制样。该晶界扩散类钕铁硼的成分分析制样方法，通过S1、钕铁硼前处理，S2、制作晶界扩散类钕铁硼，S3、晶界扩散类钕铁硼的选取，S4、清洗烘干，S5样品粉碎，S6样品分析制样六个步骤对晶界扩散类钕铁硼进行成分分析制样，其步骤过程较为简单，易操作，同时S5步骤中将片状样品转化成粉末状，易于S6步骤中的消解处理，使样品消解过程中更加充分，时间更短，大大缩减了成分分析制样的时间。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 扩散 类钕铁硼 成分 分析 方法 | ||
【主权项】：
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